粉末接觸角測量儀是測量液體對固體材料接觸角的儀器，主要用于表征液體對固體材料表面的潤濕性能，通過光學(xué)成像獲取液滴的圖像，利用計算機(jī)軟件，通過數(shù)學(xué)模型擬合出液滴圖像的輪廓并得到接觸角或表面張力，并進(jìn)行表面能計算和潤濕性分析。
半導(dǎo)體膜厚測試儀是一款精準(zhǔn)又好用的薄膜厚度測量設(shè)備。它能測低至20納米的超薄薄膜，測量誤差小于1納米，最快每秒可測100次，重復(fù)測量精度高達(dá)0.05納米。具有強(qiáng)抗干擾性，高靈敏度元器件搭配抗干擾光學(xué)系統(tǒng)+多參數(shù)反演算法，復(fù)雜環(huán)境下測量穩(wěn)定，靈活易適配，支持自定義膜結(jié)構(gòu)測量，設(shè)備小巧易安裝，配套軟件及二次開發(fā)包，適配實(shí)驗(yàn)室/產(chǎn)線多場景。
反射式光學(xué)膜厚儀具有強(qiáng)抗干擾性，高靈敏度元器件搭配抗干擾光學(xué)系統(tǒng)+多參數(shù)反演算法，復(fù)雜環(huán)境下測量穩(wěn)定，靈活易適配，支持自定義膜結(jié)構(gòu)測量，設(shè)備小巧易安裝，配套軟件及二次開發(fā)包，適配實(shí)驗(yàn)室/產(chǎn)線多場景。
非接觸式膜厚測量儀精準(zhǔn)測量，支持20nm超薄膜厚檢測，準(zhǔn)確度±1nm、重復(fù)精度0.05nm，滿足精密檢測需求，高速采樣，最高采樣速度100Hz，適配產(chǎn)線快速檢測，提升測量效率，寬光譜覆蓋，采用氘鹵組合光源，光譜覆蓋紫外至近紅外，可解析單層/多層膜厚。
光學(xué)膜厚儀廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體與微電子制造、顯示面板、光學(xué)器件制造、生物醫(yī)學(xué)、汽車及新材料與新能源研發(fā)等領(lǐng)域，能滿足從晶圓鍍膜、顯示面板薄膜到光學(xué)元件鍍膜、醫(yī)用植入物涂層、汽車玻璃膜層及新能源薄膜的高精度厚度檢測需求，助力各行業(yè)提升產(chǎn)品質(zhì)量與研發(fā)效率。
反射膜厚測量儀廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體與微電子制造、顯示面板、光學(xué)器件制造、生物醫(yī)學(xué)、汽車及新材料與新能源研發(fā)等領(lǐng)域，能滿足從晶圓鍍膜、顯示面板薄膜到光學(xué)元件鍍膜、醫(yī)用植入物涂層、汽車玻璃膜層及新能源薄膜的高精度厚度檢測需求，助力各行業(yè)提升產(chǎn)品質(zhì)量與研發(fā)效率。
反射膜厚儀是一款精準(zhǔn)又好用的薄膜厚度測量設(shè)備。它能測低至20納米的超薄薄膜，測量誤差小于1納米，最快每秒可測100次，重復(fù)測量精度高達(dá)0.05納米。它采用雙光源組合，覆蓋紫外到紅外全光譜，抗干擾能力強(qiáng)，在振動或復(fù)雜環(huán)境下也能穩(wěn)定工作。
市政管線地下空間探深儀采用全數(shù)字化高精度采樣及多重濾波抗干擾技術(shù)，具備經(jīng)典定位、導(dǎo)線巡航、信號畸變測量等多種模式，支持 11 種主動、3 種被動探測頻率，發(fā)射機(jī)支持直連、耦合、感應(yīng)三種信號輸出方式，數(shù)字功率可調(diào)且自帶自動匹配與保護(hù)功能。廣泛適用于市政規(guī)劃、供電運(yùn)維、管線管理維護(hù)等場景，是管線檢測與維護(hù)的專業(yè)儀器。
地埋電纜走向探測儀采用全數(shù)字化高精度采樣及多重濾波抗干擾技術(shù)，具備經(jīng)典定位、導(dǎo)線巡航、信號畸變測量等多種模式，支持 11 種主動、3 種被動探測頻率，發(fā)射機(jī)支持直連、耦合、感應(yīng)三種信號輸出方式，數(shù)字功率可調(diào)且自帶自動匹配與保護(hù)功能。
電纜故障定位儀是一款集路徑探測、電纜識別、故障查找于一體的高性能非開挖地下管線檢測設(shè)備，由發(fā)射機(jī)、發(fā)射電流鉗、接收機(jī)、柔性電流鉗、連接測試線及選配 A 字架組成，可在非開挖條件下完成金屬管線、地下電纜的路徑探測、普查與深度測量。全數(shù)字化高精度采樣處理，穩(wěn)定可靠，超高靈敏度，接收通頻帶極窄，抗干擾能力強(qiáng)，能充分抑制鄰近運(yùn)行電纜及管道的工頻和諧波干擾。
咨詢電話